-
1 microanalysis
1. микроанализdropping microanalysis — капельный микроанализ
electron microanalysis — электронный микроанализ
electron emission microanalysis — электронный эмиссионный микроанализ
electron-probe microanalysis — электронно-зондовый микроанализ
quantative microanalysis — количественный микроанализ
thin-film electron-probe microanalysis — тонкоплёночный электронно-зондовый микроанализ
X-ray emission microanalysis — рентгеновский эмиссионный микроанализ
English-Russian dictionary of aviation and space materials > microanalysis
-
2 electron probe microanalysis
(EPMA)Электронно-зондовый микроанализФизические методы исследования и локального анализа поверхности твердых тел с помощью пучка сфокусированных электронов (зонда). Пучки электронов получают с помощью электронной пушки - вакуумного устройства, обычно диода, в котором электроны вылетают из катода благодаря термоэлектронной эмиссии и ускоряются электрическим полем. Фокусировку пучков осуществляют электронными линзами, создающими необходимые электрические и магнитные поля. В методе используют первичные медленные (с энергией Е0 10-103 эВ) и быстрые (Е0 103-106 эВ) электроны. После взаимодействия пучка первичных электронов с поверхностью исследуемого образца можно регистрировать упруго или неупруго рассеянные электроны, вторичную электронную эмиссию, эмиссию десорбированных атомов или ионов, электромагнитное излучение в рентгеновской или оптической области, наведенный в образце электрический ток или ЭДС.Англо-русский словарь по нанотехнологиям > electron probe microanalysis
-
3 electron probe microanalysis
(EPMA)Электронно-зондовый микроанализФизические методы исследования и локального анализа поверхности твердых тел с помощью пучка сфокусированных электронов (зонда). Пучки электронов получают с помощью электронной пушки - вакуумного устройства, обычно диода, в котором электроны вылетают из катода благодаря термоэлектронной эмиссии и ускоряются электрическим полем. Фокусировку пучков осуществляют электронными линзами, создающими необходимые электрические и магнитные поля. В методе используют первичные медленные (с энергией Е0 10-103 эВ) и быстрые (Е0 103-106 эВ) электроны. После взаимодействия пучка первичных электронов с поверхностью исследуемого образца можно регистрировать упруго или неупруго рассеянные электроны, вторичную электронную эмиссию, эмиссию десорбированных атомов или ионов, электромагнитное излучение в рентгеновской или оптической области, наведенный в образце электрический ток или ЭДС.Russian-English dictionary of Nanotechnology > electron probe microanalysis
-
4 electron-probe X-ray microanalysis
электронно-зондовый микроанализ; рентгеновский микроанализ с помощью электронного зонда; рентгеноспектральный локальный анализEnglish-Russian dictionary on nuclear energy > electron-probe X-ray microanalysis
-
5 electron-probe microanalysis
электронно-зондовый микроанализ; рентгеновский микроанализ с помощью электронного зонда; рентгеноспектральный локальный анализEnglish-Russian dictionary on nuclear energy > electron-probe microanalysis
-
6 microanalysis
English-Ukrainian dictionary of microelectronics > microanalysis
-
7 microanalysis
микроанализ; микрохимический анализEnglish-Russian dictionary on nuclear energy > microanalysis
-
8 microanalysis
-
9 electron probe microanalysis
Англо-русский словарь технических терминов > electron probe microanalysis
-
10 electron beam microanalysis
Техника: электронно-лучевой микроанализУниверсальный англо-русский словарь > electron beam microanalysis
-
11 electron probe microanalysis
1) Техника: электронно-зондовый микроанализ2) Математика: рентгеноспектральный микроанализ3) Физика: электронно-зондовый анализ4) Макаров: электроннозондовый микроанализ, (EPMA) электронный микрозондовый анализУниверсальный англо-русский словарь > electron probe microanalysis
-
12 electron probe microanalysis (EPMA)
Макаров: электронный микрозондовый анализУниверсальный англо-русский словарь > electron probe microanalysis (EPMA)
-
13 electron beam microanalysis
Engineering: EBMУниверсальный русско-английский словарь > electron beam microanalysis
-
14 electron microscopy and microanalysis
Optics: EMMAУниверсальный русско-английский словарь > electron microscopy and microanalysis
-
15 electron probe microanalysis
Makarov: EPMAУниверсальный русско-английский словарь > electron probe microanalysis
-
16 electron probe microanalysis
English-Ukrainian analytical chemistry dictionary > electron probe microanalysis
-
17 electron probe microanalysis
Analytical chemistry dictionary > electron probe microanalysis
-
18 electron probe x-ray microanalysis
Analytical chemistry dictionary > electron probe x-ray microanalysis
-
19 electron probe microanalysis
електронно-зондовий мікроаналіз. Метод, який використовує електронне або рентгенівське випромінювання для спостереження за твердою поверхнею і кількісного аналізу складових елементів.English-Ukrainian dictionary of microelectronics > electron probe microanalysis
-
20 electron probe microanalysis
English-russian dictionary of physics > electron probe microanalysis
См. также в других словарях:
Electron retrodiffuse — Électron rétrodiffusé Les électrons rétrodiffusés (back scattered electrons en anglais) sont des électrons résultant de l impact d un faisceau d électrons dit primaire et d un échantillon. Les électrons primaires sont entrés en collision avec des … Wikipédia en Français
electron probe microanalysis — Electron Probe Microanalysis (EPMA) Электронно зондовый микроанализ Физические методы исследования и локального анализа поверхности твердых тел с помощью пучка сфокусированных электронов (зонда). Пучки электронов получают с помощью… … Толковый англо-русский словарь по нанотехнологии. - М.
Electron microscope — Diagram of a transmission electron microscope A 197 … Wikipedia
Électron rétrodiffusé — Les électrons rétrodiffusés (back scattered electrons en anglais) sont des électrons résultant de l impact d un faisceau d électrons dit primaire et d un échantillon. Les électrons primaires sont entrés en collision avec des noyaux d’atomes de… … Wikipédia en Français
Electron energy loss spectroscopy — In electron energy loss spectroscopy (EELS) a material is exposed to a beam of electrons with a known, narrow range of kinetic energies. Some of the electrons will undergo inelastic scattering, which means that they lose energy and have their… … Wikipedia
Electron Backscatter Diffraction — EBSD Muster Electron backscatter diffraction (EBSD) ist eine kristallografische Technik, mit der die Struktur von Kristallen analysiert werden kann. EBSD Systeme werden größtenteils in Rasterelektronenmikroskopen oder… … Deutsch Wikipedia
electron probe microanalysis — noun a method of analysing tiny quantities of a substance by bombarding it with a narrow beam of electrons and examining the resulting X ray emission spectrum …
Scanning electron microscope — These pollen grains taken on an SEM show the characteristic depth of field of SEM micrographs … Wikipedia
Environmental scanning electron microscope — Wool fibers imaged in an ESEM by the use of two symmetrical plastic scintillating backscattered electron detectors … Wikipedia
Auger electron spectroscopy — (AES; Auger pronounced|oːʒeː in French) is a common analytical technique used specifically in the study of surfaces and, more generally, in the area of materials science. Underlying the spectroscopic technique is the Auger effect, as it has come… … Wikipedia
Microscopy and Microanalysis — Discipline … Wikipedia
